Sistem PatentSistem Patent
Menu
European Patent (TR Translation)

Bir Aynanın Degradasyonu Ve Kirlilik Durumunu İzleme Sistemi.

Invention Abstract

Mevcut buluş, aynaya doğru ışın demeti yayabilen bir emisyon kafasını (204) ve aynadan çıkan bir ışın demeti alabilen bir alma kafasını (206) içeren bir sensör kafasını (200) içeren, bir aynayı (100) izlemeye yönelik bir sistemle ilgili olup, burada söz edilen alma kafası (206) bir fotodedektörü (230), bir görüntü sensörünü (228) ve alma kafası tarafından alınan demeti, görüntü sensörüne (228) iletilen bir birinci demete ve fotodedektöre (230) iletilen bir ikinci demete ayıracak şekilde tertip edilen bir ışın demeti ayırıcısını (232) içermektedir, sistem ayrıca, alma kafasının (206) fotodedektörüne (230) ve görüntü sensörüne (228) bağlı bir kontrol ve işlem cihazını (236) içermektedir, bu kontrol ve işlem cihazı (236) fotodedektör (230) tarafından gerçekleştirilen alınan ışık şiddeti ölçümü temelinde aynanın yansıtıcılık değerini ve söz edilen görüntü sensörü (228) tarafından elde edilen görüntü temelinde ayna kirlenme oranını belirleyebilmektedir.

IPC Classes
G01N21/95G01N21/84G01M11/00G01N21/55G01N21/88
Parties
Inventor
Philémon Gıraud 147 Rue De La Perrıère 38660 Le Touvet Fransa Olivier Raccurt Impasse Raspus 13830 Roquefort-La- Bédoule Fransa Anne-Claire Pescheux 2 Place Porte Reıne 73000 Chambéry Fransa Christine Delord Impasse Raspus 13830 Roquefort-La- Bédoule Fransa
Rights Holder
Commıssarıat À L'energıe Atomıque Et Aux Energıes Alternatıves Bâtıment "le Ponant D" 25, Rue Leblanc 75015 Parıs Fransa
Attorney
Hülya Çaylı (Paragon Danışmanlık Tem. Ve Tic. A. Ş.) Koza Sok. No:63/2 G.O.P. /Ankara

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.