Sistem PatentSistem Patent
Menu
European Patent (TR Translation)

Bina Yapılarının Deprem Tepkisinin Hızlı Değerlendirmesi İçin Optik Tabanlı Bir Göreli Kat Ötelemesi Ölçüm Sistemi.

Invention Abstract

Bir sensör sistemi, bir ayrık diyot sensör dizisine çarpan bir lazer ışınına dayalı olarak, bina göreli kat ötelemesinin ölçümünü sağlar. Diyot sensör dizisi, yansıtılan bir lazer ışınının diziye çarptığı konumu belirler ve bu da göreli kat ötelemesinin doğrudan bir ölçümünü sunar. Diyot sensör dizisi, ışın, diyot dizisi boyunca ileri geri hareket ederken çarpan bir lazer ışınının konumunun çok doğru bir şekilde izlenmesini sağlayan iki boyutlu bir ayrık diyot dizisidir. Yapısal elemanların dönüşlerinden (örneğin kat kirişi dönüşü) kaynaklanan lazer kaynağının lokal dönüşleri uygun bir şekilde düzeltilir. Bu, sallanan bir binanın iki kat seviyesi arasındaki göreli kat ötelemesinin doğru, dinamik ölçümlerine izin verir.

IPC Classes
G01M7/02G01B11/16G01M5/00
Parties
Inventor
William Harvey Wattenburg 4 Woodstone Lane Chıco, Calıfornıa 95928 A.B.D. David B Mccallen 1901 College Avenue Lıvermore, Calıfornıa 94550 A.B.D. Jason Coates 25 Maın Street, Suıte 203 Chıco, Calıfornıa 95928 A.B.D. Nick Repanıch 25 Maın Street, Suıte 203 Chıco Calıfornıa 95928 A.B.D.
Rights Holder
Lawrence Lıvermore Natıonal Securıty Llc 7000 East Avenue P.O. Box 808 L-703 Lıvermore, Ca 94550 A.B.D. Chıco State Enterprıses 25 North Maın Street, Suıte 203 Chıco, Ca 95928 A.B.D.
Attorney
Erkan Sevinç (İstanbul Patent A.Ş.) Büyükdere Cad. Plaza 33 No:33 K:7 D:16 Şişli/İstanbul

This record is compiled from official TPMK patent bulletins and is provided for information. The abstract text is as published, in Turkish. The current legal status (opposition, assignment, invalidation) requires a full register review. Ask our experts for a comprehensive patent search.